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  • VT6100光學(xué)共聚焦掃描顯微鏡
    VT6100光學(xué)共聚焦掃描顯微鏡

    以共聚焦技術(shù)為原理的VT6000光學(xué)共聚焦掃描顯微鏡,是用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。儀器基于共聚焦顯微技術(shù),結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,可以對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:1232
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  • SuperViewW1白光干涉顯微輪廓儀
    SuperViewW1白光干涉顯微輪廓儀

    SuperViewW1白光干涉顯微輪廓儀設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能;以白光干涉技術(shù)為原理,可對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。能對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1305
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  • VT6100共聚焦激光掃描顯微鏡
    VT6100共聚焦激光掃描顯微鏡

    中圖儀器VT6000共聚焦激光掃描顯微鏡主要采用3D捕獲的成像技術(shù),通過(guò)數(shù)碼相機(jī)針孔的高強(qiáng)度激光來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)字成像,具有很強(qiáng)的縱向深度的分辨能力;以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法,共同組成測(cè)量系統(tǒng)。能測(cè)各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:1280
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  • NS200國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀
    NS200國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀

    中圖儀器NS200國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀采用接觸式表面形貌測(cè)量,對(duì)測(cè)量表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒(méi)有特別要求,樣品適應(yīng)面廣,數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效,是微觀表面測(cè)量中使用廣泛的微納樣品測(cè)量手段。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:3917
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  • VT6100共聚焦顯微鏡
    VT6100共聚焦顯微鏡

    中圖儀器VT6000系列共聚焦顯微鏡擅長(zhǎng)微納級(jí)粗糙輪廓的檢測(cè),所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:1840
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  • SuperViewW1白光干涉儀粗糙度儀
    SuperViewW1白光干涉儀粗糙度儀

    SuperViewW1白光干涉儀粗糙度儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。可對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1430
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  • SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)設(shè)備
    SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)設(shè)備

    SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)設(shè)備以白光干涉技術(shù)為原理,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。

    時(shí)間:2024-05-12型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:1473
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  • NS200臺(tái)階儀
    NS200臺(tái)階儀

    NS200臺(tái)階儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x器,可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。臺(tái)階儀對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒(méi)有特別要求,樣品適應(yīng)面廣,數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效,是微觀表面測(cè)量中使用非常廣泛的微納樣品測(cè)量手段。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):訪問(wèn)量:1569
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